礦物材料結(jié)構(gòu)與表征

目錄
叢書(shū)序
前言
第1章緒論1
1.1礦物材料結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系1
1.2礦物材料結(jié)構(gòu)表征的基本方法2
1.2.1化學(xué)組成與晶體結(jié)構(gòu)分析3
1.2.2顆粒形貌分析5
1.2.3表界面分析6
參考文獻(xiàn)8
第2章礦物材料元素及成分9
2.1概述9
2.2化學(xué)分析9
2.2.1測(cè)試樣品的制備9
2.2.2滴定分析法9
2.2.3重量分析法12
2.2.4化學(xué)分析在礦物材料中的應(yīng)用14
2.3X射線(xiàn)熒光光譜16
2.3.1X射線(xiàn)熒光光譜分析原理16
2.3.2X射線(xiàn)熒光光譜儀21
2.3.3定性和半定量分析22
2.3.4定量分析24
2.3.5X射線(xiàn)熒光光譜在礦物材料中的應(yīng)用28
2.4電感耦合等離子體光譜29
2.4.1電感耦合等離子體光譜分析原理29
2.4.2電感耦合等離子體光譜儀及構(gòu)造30
2.4.3樣品處理30
2.4.4定量分析34
2.4.5電感耦合等離子體光譜在礦物材料中的應(yīng)用38
2.5原子吸收光譜43
2.5.1原子吸收光譜分析基本原理43
2.5.2原子吸收分光光度計(jì)43
2.5.3干擾及消除方法44
2.5.4定量分析46
2.5.5原子吸收光譜在礦物材料中的應(yīng)用49
參考文獻(xiàn)51
第3章礦物材料晶體結(jié)構(gòu)53
3.1概述53
3.2X射線(xiàn)衍射53
3.2.1X射線(xiàn)基礎(chǔ)知識(shí)及布拉格方程53
3.2.2X射線(xiàn)衍射儀54
3.2.3X射線(xiàn)多晶物相分析55
3.2.4X射線(xiàn)衍射在礦物材料中的應(yīng)用56
3.3核磁共振波譜61
3.3.1核磁共振波譜分析基本原理61
3.3.2核磁共振波譜的主要參數(shù)63
3.3.3核磁共振波譜儀66
3.3.4核磁共振波譜在礦物材料中的應(yīng)用68
3.4穆斯堡爾譜70
3.4.1穆斯堡爾譜基本原理70
3.4.2穆斯堡爾譜儀器構(gòu)成77
3.4.3穆斯堡爾譜分析方法78
3.4.4穆斯堡爾譜在礦物材料中的應(yīng)用80
3.5中子技術(shù)82
3.5.1中子技術(shù)基本原理82
3.5.2中子技術(shù)裝置86
3.5.3中子技術(shù)樣品制備及分析89
3.5.4中子技術(shù)在礦物材料中的應(yīng)用92
3.6同步輻射93
3.6.1同步輻射基本原理93
3.6.2同步輻射裝置94
3.6.3同步輻射樣品制備及分析94
3.6.4同步輻射在礦物材料中的應(yīng)用96
3.7單晶衍射98
3.7.1單晶衍射基本原理98
3.7.2單晶衍射分析儀及構(gòu)造98
3.7.3單晶衍射樣品制備及分析99
3.7.4單晶衍射在礦物材料中的應(yīng)用100
參考文獻(xiàn)101
第4章礦物材料形貌表征104
4.1概述104
4.2光學(xué)顯微鏡104
4.2.1光學(xué)顯微鏡工作原理和儀器構(gòu)造105
4.2.2光學(xué)顯微鏡的樣品制備108
4.2.3光學(xué)顯微鏡在礦物材料中的應(yīng)用109
4.3掃描電子顯微鏡110
4.3.1掃描電子顯微鏡工作原理和儀器構(gòu)造110
4.3.2掃描電子顯微鏡的圖像襯度113
4.3.3掃描電子顯微鏡的特點(diǎn)117
4.3.4掃描電子顯微鏡的樣品制備118
4.3.5掃描電子顯微鏡在礦物材料中的應(yīng)用120
4.4透射電子顯微鏡122
4.4.1透射電子顯微鏡基本原理和儀器構(gòu)造122
4.4.2透射電子顯微鏡的特點(diǎn)140
4.4.3透射電子顯微鏡的樣品制備141
4.4.4電子衍射141
4.4.5高分辨電子顯微技術(shù)144
4.4.6透射電子顯微鏡在礦物材料中的應(yīng)用145
4.5冷凍電子顯微鏡147
4.5.1冷凍電子顯微鏡技術(shù)原理147
4.5.2冷凍電子顯微鏡分類(lèi)147
4.5.3樣品制備及分析148
4.5.4冷凍電子顯微鏡在礦物材料中的應(yīng)用149
參考文獻(xiàn)150
第5章礦物材料顆粒特性153
5.1概述153
5.2沉降法153
5.2.1沉降法基本原理153
5.2.2沉降法測(cè)試過(guò)程159
5.2.3數(shù)據(jù)處理及分析164
5.3顯微圖像法165
5.3.1顯微圖像法基本原理166
5.3.2顯微圖像法儀器166
5.3.3顯微圖像法樣品制備166
5.4激光粒度儀法167
5.4.1激光粒度法基本原理168
5.4.2激光粒度儀器175
5.4.3樣品制備178
5.5電阻粒度儀法179
5.5.1電阻法基本原理179
5.5.2電阻法粒度儀181
5.5.3樣品制備181
參考文獻(xiàn)182
第6章礦物材料孔結(jié)構(gòu)特征184
6.1概述184
6.2氣體吸附法185
6.2.1吸附基本概念185
6.2.2氣體吸附法測(cè)試孔結(jié)構(gòu)基本原理187
6.2.3氣體吸附儀191
6.2.4氣體吸附數(shù)據(jù)分析194
6.2.5N2吸附脫附原始數(shù)據(jù)處理196
6.3壓汞法201
6.3.1壓汞法基本原理201
6.3.2壓汞法儀器構(gòu)造203
6.3.3壓汞法數(shù)據(jù)分析207
6.4小角X射線(xiàn)散射法209
6.4.1小角X射線(xiàn)散射法測(cè)試孔結(jié)構(gòu)基本原理209
6.4.2小角X射線(xiàn)散射法儀器構(gòu)造213
6.4.3小角X射線(xiàn)散射法數(shù)據(jù)分析214
參考文獻(xiàn)217
第7章礦物材料熱分析222
7.1概述222
7.2熱分析技術(shù)223
7.2.1熱分析基本概念和定律223
7.2.2物質(zhì)加熱過(guò)程中的變化227
7.2.3熱分析基本術(shù)語(yǔ)228
7.3熱分析方法及設(shè)備234
7.3.1差熱分析法236
7.3.2熱重法244
7.3.3差示掃描量熱法249
7.3.4微量熱法253
參考文獻(xiàn)256
第8章礦物材料表面特性259
8.1概述259
8.2Zeta電位分析259
8.2.1Zeta電位分析基本原理259
8.2.2Zeta電位分析儀261
8.2.3Zeta電位分析儀的制樣方法262
8.2.4Zeta電位分析在礦物材料中的應(yīng)用264
8.3紅外光譜265
8.3.1紅外光譜基本原理265
8.3.2傅里葉變換紅外光譜儀267
8.3.3紅外光譜制樣及分析方法269
8.3.4紅外光譜在礦物材料中的應(yīng)用272
8.4激光拉曼光譜273
8.4.1激光拉曼光譜基本原理273
8.4.2激光拉曼光譜儀組成276
8.4.3激光拉曼光譜的分析方法279
8.4.4激光拉曼光譜在礦物材料中的應(yīng)用279
8.5X射線(xiàn)光電子能譜281
8.5.1X射線(xiàn)光電子能譜基本原理281
8.5.2X射線(xiàn)光電子能譜儀的結(jié)構(gòu)282
8.5.3定性分析283
8.5.4定量分析285
8.5.5X射線(xiàn)光電子能譜在礦物材料中的應(yīng)用286
8.6紫外光電子能譜288
8.6.1紫外光電子能譜基本原理288
8.6.2紫外光電子能譜儀的結(jié)構(gòu)288
8.6.3紫外光電子能譜的分析方法290
8.6.4紫外光電子能譜在礦物材料中的應(yīng)用292
參考文獻(xiàn)295
第9章礦物材料界面特征298
9.1概述298
9.2原子力顯微鏡298
9.2.1原子力顯微鏡工作原理和儀器構(gòu)造299
9.2.2原子力顯微鏡的成像模式301
9.2.3原子力顯微鏡的工作環(huán)境303
9.2.4原子力顯微鏡的特點(diǎn)304
9.2.5原子力顯微鏡的假象304
9.2.6原子力顯微鏡樣品的要求307
9.2.7原子力顯微鏡的分辨率308
9.2.8原子力顯微鏡的功能技術(shù)308
9.2.9原子力顯微鏡在礦物材料中的應(yīng)用312
9.3掃描隧道顯微鏡323
9.3.1掃描隧道顯微鏡基本原理和儀器構(gòu)造324
9.3.2掃描隧道顯微鏡的工作模式327
9.3.3掃描隧道顯微鏡的特點(diǎn)328
9.3.4掃描隧道顯微鏡在礦物材料中的應(yīng)用328
9.4共聚焦激光掃描顯微鏡333
9.4.1共聚焦成像基本原理334
9.4.2共聚焦儀器構(gòu)成335
9.4.3共聚焦樣品制備及分析337
9.4.4共聚焦激光掃描顯微鏡在礦物材料中的應(yīng)用338
參考文獻(xiàn)343