嵌入式處理器片上追蹤調(diào)試技術(shù)

第1章 緒論
1.1 嵌入式系統(tǒng)調(diào)試技術(shù)概述
1.1.1 嵌入式系統(tǒng)的調(diào)試技術(shù)
1.1.2 嵌入式系統(tǒng)的片上在線錯(cuò)誤檢測技術(shù)
1.1.3 高性能嵌入式多核DSP
1.2 研究內(nèi)容
1.3 組織結(jié)構(gòu)
參考文獻(xiàn)
第2章 片上調(diào)試技術(shù)的相關(guān)研究
2.1 協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)
2.1.1 JTAG標(biāo)準(zhǔn)
2.1.2 Nexus標(biāo)準(zhǔn)
2.1.3 MIPI標(biāo)準(zhǔn)
2.2 商業(yè)處理器中的片上trace
2.3 支持trace的仿真調(diào)試器
2.4 學(xué)術(shù)研究
參考文獻(xiàn)
第3章 調(diào)試模型與片上trace
3.1 基于存儲(chǔ)元件狀態(tài)集合的調(diào)試模型
3.1.1 處理器系統(tǒng)模型
3.1.2 調(diào)試模型
3.2 非入侵可觀測性分析
3.3 片上trace調(diào)試技術(shù)
3.3.1 嵌入式軟件的調(diào)試階段
3.3.2 片上trace調(diào)試的內(nèi)在優(yōu)勢
3.3.3 片上trace實(shí)現(xiàn)模型
3.4 本章小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第4章 多核片上trace調(diào)試框架：TraceDo
4.1 TraceDo框架
4.2 trace信息的采集、壓縮與配置
4.2.1 路徑trace
4.2.2 數(shù)據(jù)trace
4.2.3 事件trace
4.2.4 功能配置方式
4.3 Trace信息采集壓縮方法的相關(guān)研究及比較
4.4 路徑trace方案實(shí)驗(yàn)評估
4.4.1 路徑trace實(shí)驗(yàn)環(huán)境
4.4.2 路徑trace實(shí)驗(yàn)結(jié)果
4.4.3 事件trace實(shí)驗(yàn)結(jié)果
4.5 本章小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第5章 trace片上傳輸結(jié)構(gòu)
5.1 trace流傳輸問題分析
5.2 核內(nèi)trace流的兩級(jí)緩沖傳輸結(jié)構(gòu)
5.2.1 核內(nèi)trace流傳輸?shù)膶?shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)
5.2.2 K-N緩沖結(jié)構(gòu)模型與面積建模
5.2.3 面積-溢出折中的結(jié)構(gòu)參數(shù)選擇
5.3 核間tmce流的合成調(diào)度算法
5.3.1 trace流合成的分析與相關(guān)研究
5.3.2 trace流的合成調(diào)度算法
5.3.3 性能評估與比較
5.4 本章小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第6章 Trace輔助的程序分析、調(diào)試與調(diào)優(yōu)
6.1 片上trace應(yīng)用概述
6.2 多核程序的分析與調(diào)優(yōu)
6.2.1 基于Qlink傳輸?shù)?D-FFT并行算法
6.2.2 TraceDo輔助的程序分析與調(diào)優(yōu)
6.3 路徑trace支持的預(yù)取排布
6.3.1 相關(guān)研究
6.3.2 程序周期行為
6.3.3 執(zhí)行周期預(yù)取
6.3.4 面向周期預(yù)期的代碼排布
6.3.5 性能評估與比較
6.4 本章小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第7章 程序控制流錯(cuò)誤的檢測方法：V-CFC
7.1 程序控制流錯(cuò)誤及檢測
7.1.1 概述
7.1.2 控制流錯(cuò)誤類型分析
7.1.3 相關(guān)研究
7.2 V—CFC方法
7.2.1 概述
7.2.2 層次化特征值
7.2.3 特征值指令
7.2.4 特征值檢查
7.2.5 特征值指令優(yōu)化
7.2.6 增加覆蓋率的措施
7.3 軟硬件實(shí)現(xiàn)
7.4 性能評估
7.4.1 方法與環(huán)境
7.4.2 特征值混淆
7.4.3 存儲(chǔ)耗費(fèi)與性能代價(jià)
7.4.4 故障覆蓋率
7.4.5 故障檢測延遲
7.4.6 綜合性能比較
7.5 本章小結(jié)
參考文獻(xiàn)
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