化學鍵的弛豫

　　本書從成鍵與非鍵的形成、斷裂、弛豫、振動以及相應的電子遷移、極化、局域化、致密化動力學角度出發(fā)，旨在揭示固體表面化學吸附、異質(zhì)界面、拓撲缺陷、低維結(jié)構(gòu)等非常規(guī)配位體系的各種物理化學性能的微觀起源及其在外場作用下的演化規(guī)律。著重介紹了鍵弛豫理論、電子能量局域釘扎極化理論、局域鍵平均近似原理和數(shù)值算法、計量譜學實驗以及定量信息提取技術(shù)及其應用?！”緯谝黄獙Ｗ⒂诨瘜W吸附過程中化學鍵-能帶-勢壘的弛豫動力學；第二篇主攻低配位體系的反常力學強度、熱穩(wěn)定性、聲子激發(fā)、光發(fā)射與吸收、電子的釘扎與極化、磁性與介電等物性；第三篇主要闡述原子尺度單鍵固體力學，包括單原子鏈、單層原子片、納米孔洞、異質(zhì)界面等體系，在受熱、受力條件下的彈性與塑性力學行為?！”緯鴱娬{(diào)原理和概念，力求表述簡單。全書自成體系、風格獨特，貫穿原創(chuàng)性、深入性、關(guān)聯(lián)性和系統(tǒng)性于始終。可作為材料、物理、化學、力學、表面與界面、納米科學等相關(guān)領(lǐng)域的教學和科研參考。

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