材料分析方法實(shí)驗(yàn)教程

定　價(jià)：￥25.00

作　者：	路文江，張建斌，王文焱著
出版社：	化學(xué)工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787122171870	出版時(shí)間：	2013-08-01	包裝：	平裝
開(kāi)本：	16開(kāi)	頁(yè)數(shù)：	155	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　《材料分析方法實(shí)驗(yàn)教程》主要包括基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)、軟件分析型實(shí)驗(yàn)、綜合型實(shí)驗(yàn)、實(shí)驗(yàn)報(bào)告的撰寫四大部分。基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)部分選擇了金屬材料、無(wú)機(jī)非金屬材料及高分子材料專業(yè)中最常用到的幾種實(shí)驗(yàn)。軟件分析型實(shí)驗(yàn)部分非常詳細(xì)地介紹了在材料分析領(lǐng)域最常用到的幾種分析軟件的分析原理、分析步驟及注意事項(xiàng)，并通過(guò)實(shí)例來(lái)講解具體如何分析。綜合型實(shí)驗(yàn)部分重在體現(xiàn)對(duì)實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)及綜合性，旨在動(dòng)手能力和定量分析能力的培養(yǎng)。在內(nèi)容編排上，結(jié)合最新國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，將先進(jìn)材料如單晶材料、納米材料、非晶材料融入實(shí)驗(yàn)中，實(shí)驗(yàn)內(nèi)容超越一般的演示性實(shí)驗(yàn)或單項(xiàng)內(nèi)容的實(shí)驗(yàn)。本書可作為材料科學(xué)與工程及材料相關(guān)專業(yè)的本科生、研究生的實(shí)驗(yàn)教程和工具書，同時(shí)也可作為從事材料研究及分析檢測(cè)工作技術(shù)人員的工具書。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《材料分析方法實(shí)驗(yàn)教程》作者簡(jiǎn)介

圖書目錄

第一部分　基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)

　實(shí)驗(yàn)1　單相立方系物質(zhì)X射線粉末相的分析

　實(shí)驗(yàn)2　透射電鏡的基本結(jié)構(gòu)、樣品制備及圖像分析

　實(shí)驗(yàn)3　透射電鏡電子衍射相結(jié)構(gòu)分析

　實(shí)驗(yàn)4　掃描電鏡結(jié)構(gòu)、工作原理與典型斷口觀察

　實(shí)驗(yàn)5　能譜儀的構(gòu)造及微區(qū)成分分析（點(diǎn)、線、面分析）

　實(shí)驗(yàn)6　利用紅外光譜分析聚合物結(jié)構(gòu)

　實(shí)驗(yàn)7　利用核磁共振譜儀（1H-NMR）分析共聚物組成

　實(shí)驗(yàn)8　綜合熱分析

第二部分　軟件分析型實(shí)驗(yàn)

　實(shí)驗(yàn)1　利用Search Match軟件進(jìn)行多相物質(zhì)物相定性分析

　實(shí)驗(yàn)2　利用MDI Jade軟件計(jì)算點(diǎn)陣常數(shù)

　實(shí)驗(yàn)3　用PCPDFWIN軟件進(jìn)行多相物質(zhì)的相分析

　實(shí)驗(yàn)4　利用Image pro plus軟件計(jì)算晶粒尺寸

　實(shí)驗(yàn)5　熱分析實(shí)驗(yàn)：利用Proteus軟件進(jìn)行DSC分析

　實(shí)驗(yàn)6　利用Image J軟件分析第二相的尺寸及含量

　實(shí)驗(yàn)7　利用Graph Digitizer軟件進(jìn)行曲線圖的數(shù)字化

　實(shí)驗(yàn)8　利用Thermo-Calc軟件計(jì)算二元相圖

第三部分　綜合型實(shí)驗(yàn)

　實(shí)驗(yàn)1　顯微組織的定量分析

　實(shí)驗(yàn)2　單晶硅位錯(cuò)觀察及位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)分析

　實(shí)驗(yàn)3　納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測(cè)定

　實(shí)驗(yàn)4　透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射花樣的指標(biāo)化及其標(biāo)定

　實(shí)驗(yàn)5　機(jī)械合金化過(guò)程中Al-Fe的結(jié)構(gòu)演變

第四部分　實(shí)驗(yàn)報(bào)告的撰寫

附錄

　　附錄1　常用晶體學(xué)公式

　　附錄2　常見(jiàn)晶體的晶面間距

　　附錄3　各種點(diǎn)陣的結(jié)構(gòu)因數(shù)F2HKL

　　附錄4　粉末法的多重性因數(shù)Phkl

　　附錄5　常見(jiàn)晶體標(biāo)準(zhǔn)電子衍射花樣

　　附錄6　特征X射線的波長(zhǎng)和能量表

　　附錄7　立方和六方晶體可能出現(xiàn)的反射