RFID產(chǎn)品研發(fā)及生產(chǎn)關(guān)鍵技術(shù)

定　價：￥28.00

作　者：	寧煥生，張彥編著
出版社：	電子工業(yè)出版社
叢編項：
標　簽：	通信技術(shù)

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ISBN：	9787121039263	出版時間：	2007-03-01	包裝：	膠版紙
開本：	16	頁數(shù)：	211	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書是作者經(jīng)過多年的研究和實踐的成果積累。全書共分6章分別介紹了當前RFID產(chǎn)業(yè)在國際國內(nèi)的發(fā)展狀況；RFID協(xié)議與標準；RFID研發(fā)和生產(chǎn)中的關(guān)鍵技術(shù)；RFID實驗及應(yīng)用測試環(huán)境；最后是回顧與展望。全書著重于實際的一線應(yīng)用，而避免理論的闡述與說教，具有很強的可讀性和實踐性。RFID技術(shù)是電子技術(shù)、計算機技術(shù)和通信技術(shù)等多個學科的交叉學科。本書正是基于多年的RFID研發(fā)和工程經(jīng)驗，在概要介紹原理的基礎(chǔ)上對關(guān)鍵技術(shù)進行詳細介紹，列舉大量設(shè)計和測試實例，并通過豐富的圖片讓讀者直觀了解RFID研發(fā)和生產(chǎn)過程中的關(guān)鍵技術(shù)和設(shè)備。本書內(nèi)容豐富、翔實。對正在研發(fā)和設(shè)計RFID系統(tǒng)的專業(yè)人員、企業(yè)決策和技術(shù)管理人員具有很高的參考價值。

作者簡介

　　寧煥生，男，1975年生，1996年于安徽大學電子工程專業(yè)本科畢業(yè)，2001年在北京航空航天大學獲信息與通信工程專業(yè)博士學位；2001-2003年擔任航天金卡公司副總師；2004-2005年在北京航空航天大學電磁場與微波技術(shù)專業(yè)博士后流動站工作?，F(xiàn)任北京航空航天大學副教授，碩士生導(dǎo)師。在企業(yè)工作期間，負責國家重大工程和行業(yè)重大工程研發(fā)及項目管理；2004年在北京航空航天大學電子信息工程學院工作以來，主要研究方向包括射頻識別技術(shù)（RFID）、金融信息化（EMV、PBOC）、電磁散射與目標識別技術(shù)等。主持過國家973子專題、航天支撐基金、博士后科學基金、武器裝備、民航、RFID、PBOC等各類項目十余項。近年來，先后獲國防科技和省部級二等獎4項，發(fā)表論文20余篇，申請國家發(fā)明和國防專利十余項。

圖書目錄

第1章  緒論
1.1  RFID技術(shù)的發(fā)展
1.1.1  RFID的發(fā)展歷史
1.1.2  RFID技術(shù)在國內(nèi)外的發(fā)展現(xiàn)狀
1.2  RFID的應(yīng)用和展望
1.2.1  不同頻率RFID技術(shù)的應(yīng)用
1.2.2  RFID技術(shù)在不同行業(yè)中的應(yīng)用
1.2.3  RFID技術(shù)現(xiàn)存的問題
1.3  RFID系統(tǒng)及組成原理
1.3.1  RFID系統(tǒng)的基本組成
1.3.2  RFID系統(tǒng)的射頻工作原理
1.4  本書內(nèi)容安排
第2章  RFID協(xié)議與標準
2.1  RFID協(xié)議與標準體系簡介
2.1.1  RFID標準現(xiàn)狀
2.1.2  常用RFID國際標準（ISO）簡介
2.1.3  EPC標準簡介
2.1.4  UID標準簡介
2.1.5  我國RFID標準的發(fā)展
2.2  企業(yè)RFID知識產(chǎn)權(quán)戰(zhàn)略
2.2.1  RFID知識產(chǎn)權(quán)的重要性
2.2.2  企業(yè)知識產(chǎn)權(quán)戰(zhàn)略
第3章  RFID研發(fā)關(guān)鍵技術(shù)
3.1  RFID編碼
3.1.1  條形碼簡介
3.1.2  RFID編碼規(guī)則
3.1.3  條形碼和RFID編碼的轉(zhuǎn)換
3.1.4  我國RFID編碼現(xiàn)狀
3.2  終端關(guān)鍵技術(shù)
3.2.1  射頻天線
3.2.2  DSP
3.2.3  接口及實例
3.3  反碰撞算法和FPGA仿真
3.3.1  反碰撞算法的原理
3.3.2  RFID技術(shù)中的反碰撞算法
3.3.3  FPGA簡介
3.3.4  RFID反碰撞算法設(shè)計實例
3.3.5  RFID反碰撞算法的FPGA仿真及分析實例
3.3.6  小結(jié)
第4章  RFID生產(chǎn)關(guān)鍵技術(shù)
4.1  標簽生產(chǎn)
4.1.1  概述
4.1.2  芯片設(shè)計
4.1.3  COS簡介
4.1.4  芯片制造和掩膜
4.1.5  天線設(shè)計
4.1.6  天線制造工藝
4.1.7  天線與芯片的封裝
4.1.8  外封裝
4.1.9  初始化
4.1.10  個人化
4.1.11  生產(chǎn)過程中的測試
4.2  機具生產(chǎn)
第5章  RFID實驗室及測試
5.1  一般測試實驗室
5.2  微波暗室
5.2.1  微波暗室簡介
5.2.2  性能指標
5.2.3  暗室設(shè)備
5.2.4  測試系統(tǒng)
5.3  應(yīng)用測試實驗室
5.4  RFID測試內(nèi)容
5.4.1  讀寫器的測試
5.4.2  有源標簽的測試
5.4.3  應(yīng)用測試
附錄A  RFID空中接口標準研究與專利授權(quán)現(xiàn)狀
參考文獻