模擬與數(shù)字電路基礎(chǔ)實驗

       第1篇 模擬電子學基礎(chǔ)實驗      §1.1 線性電路的仿真      1.1.1 OrCAD的使用   1.1.1.1 EDA簡介   1.1.1.2 電路原理圖輸入Capture操作步驟   1.1.1.3 電路仿真PSpice操作步驟      1.1.2 無源RLC線性電路特性   1.1.2.1 一階系統(tǒng)   1.1.2.2 二階系統(tǒng)      1.1.3 實驗內(nèi)容   1.1.3.1 一階低通和高通電路仿真分析   1.1.3.2 二階低通和高通電路仿真分析   1.1.3.3 二階帶通和帶阻電路仿真分析      1.1.4 實驗步驟   1.1.4.1 無源RLC線性電路原理圖輸入   1.1.4.2 無源RLC線性電路的瞬態(tài)分析   1.1.4.3 無源RLC線性電路的交流分析   1.1.4.4 實驗數(shù)據(jù)記錄      §1.2 晶體管單級放大器的分析      1.2.1 實驗原理   1.2.1.1 雙極型管共射放大器   1.2.1.2 MOSFET共源放大器      1.2.2 實驗內(nèi)容   1.2.2.1 雙極型管共射放大器分析   1.2.2.2 絕緣柵型場效應管共源放大器分析   1.2.2.3 實驗數(shù)據(jù)記錄      §1.3 晶體管多級放大器的分析      1.3.1 實驗原理   1.3.1.1 共射放大器特性   1.3.1.2 共基放大器特性   1.3.1.3 共集放大器特性      1.3.2 實驗內(nèi)容   1.3.2.1 多級放大器的瞬態(tài)分析   1.3.2.2 多級放大器的交流分析   1.3.2.3 實驗數(shù)據(jù)記錄      §1.4 差動放大電路的分析      1.4.1 實驗原理   1.4.1.1 基本型差動放大器   1.4.1.2 恒流源型差動放大器   1.4.1.3 有源負載型差動放大器      1.4.2 實驗內(nèi)容   1.4.2.1 差動放大器的瞬態(tài)分析   1.4.2.2 差動放大器的交流掃描分析   1.4.2.3 實驗數(shù)據(jù)記錄      §1.5 負反饋放大電路的分析      1.5.1 實驗原理   1.5.1.1 負反饋系統(tǒng)組態(tài)   1.5.1.2 負反饋系統(tǒng)特性      1.5.2 實驗內(nèi)容   1.5.2.1 電壓串聯(lián)負反饋放大電路的分析   1.5.2.2 電流串聯(lián)負反饋放大電路的分析   1.5.2.3 電壓并聯(lián)負反饋放大電路的分析   1.5.2.4 電流并聯(lián)負反饋放大電路的分析   1.5.2.5 數(shù)據(jù)記錄      §1.6 運算放大器及其信號處理電路的分析      1.6.1 實驗原理   1.6.1.1 運算放大器特性   1.6.1.2 信號處理電路   1.6.1.3 有源濾波器      1.6.2 實驗內(nèi)容   1.6.2.1 運算放大器特性分析   1.6.2.2 加運算電路分析   1.6.2.3 積分與微分運算電路分析   1.6.2.4 有源濾波器電路分析   1.6.2.5 數(shù)據(jù)記錄      §1.7 信號波形發(fā)生電路的分析      1.7.1 實驗原理   1.7.1.1 Wien正弦波振蕩器   1.7.1.2 非正弦波振蕩器      1.7.2 實驗內(nèi)容   1.7.2.1 Wien正弦波振蕩器分析   1.7.2.2 非正弦波振蕩器分析   1.7.2.3 數(shù)據(jù)記錄      §1.8 串聯(lián)型調(diào)整管穩(wěn)壓電源的分析      1.8.1 實驗原理   1.8.1.1 變壓器   1.8.1.2 整流與濾波電路   1.8.1.3 穩(wěn)壓電路   1.8.1.4 穩(wěn)壓電源主要指標      1.8.2 實驗內(nèi)容   1.8.2.1 輸出電壓范圍分析   1.8.2.2 穩(wěn)壓系數(shù)分析   1.8.2.3 輸出阻抗分析   1.8.2.4 濾波電壓紋波分析   1.8.2.5 數(shù)據(jù)記錄      §1.9 OrCAD使用指南      1.9.1 電路原理圖輸入Capture   1.9.1.1 電路原理圖的基本結(jié)構(gòu)   1.9.1.2 設(shè)計項目管理   1.9.1.3 PSpice數(shù)據(jù)表示   1.9.1.4 元件（Part）與庫（Library）   1.9.1.5 元器件的放置（Place/Part）   1.9.1.6 電源與接地符號的放置（Place/Power和Place/Ground）   1.9.1.7 端口連接符號的放置（Place/OffˉPage Connector）   1.9.1.8 互連線的繪制（Place/Wire）   1.9.1.9 電連接結(jié)點的放置（Place/Junction）   1.9.1.10 節(jié)點名的放置（Place/Net Alias）   1.9.1.11 總線   1.9.1.12 電路圖的編輯修改   1.9.1.13 元器件屬性參數(shù)的編輯修改      1.9.2 電路仿真PSpice   1.9.2.1 輸出變量表示   1.9.2.2 直流工作點分析（Bias Point）   1.9.2.3 直流特性掃描分析（DC Sweep）   1.9.2.4 交流小信號頻率特性分析（AC Sweep）   1.9.2.5 瞬態(tài)特性分析（Time Domain（Transient））   1.9.2.6 輸入激勵信號   1.9.2.7 波形顯示和分析模塊Probe      §1.10 放大器參數(shù)測試以及無源器件參數(shù)系列      1.10.1 放大器參數(shù)測試的實驗方法   1.10.1.1 最大動態(tài)范圍Vopp 的測試   1.10.1.2 放大器輸入阻抗Ri 的測試   1.10.1.3 放大器輸出電阻Ro的測試   1.10.1.4 放大器增益的測試   1.10.1.5 放大器幅頻特性的測試   1.10.2 無源器件參數(shù)系列   1.10.2.1 電阻參數(shù)系列   1.10.2.2 電容參數(shù)系列   1.10.2.3 電感參數(shù)系列      第2篇 數(shù)字邏輯基礎(chǔ)實驗      §2.1 數(shù)字EDA軟件入門      2.1.1 利用EDA工具設(shè)計數(shù)字電路的基本流程      2.1.2 以電原理圖為頂層的設(shè)計   2.1.2.1 進入設(shè)計環(huán)境   2.1.2.2 進入電原理圖編輯器   2.1.2.3 編輯電原理圖   2.1.2.4 后續(xù)處理      2.1.3 實驗內(nèi)容   2.1.3.1 輸入電原理圖   2.1.3.2 設(shè)計后續(xù)處理   2.1.3.3 實驗預習   2.1.3.4 實驗報告要求      §2.2 組合電路的分析和驗證      2.2.1 實驗原理      2.2.2 實驗內(nèi)容   2.2.2.1 編碼器電路分析   2.2.2.2 組合電路分析1   2.2.2.3 組合電路分析2   2.2.2.4 實驗預習報告內(nèi)容   2.2.2.5 實驗報告要求      §2.3 組合電路（7段譯碼器與編碼器）的設(shè)計      2.3.1 實驗原理      2.3.2 實驗內(nèi)容   2.3.2.1 設(shè)計7段數(shù)碼顯示器譯碼電路   2.3.2.2 設(shè)計4ˉ2優(yōu)先編碼器   2.3.2.3 實驗預習報告內(nèi)容   2.3.2.4 實驗報告要求      §2.4 層次化的設(shè)計方法（全加器設(shè)計）      2.4.1 實驗原理      2.4.2 實驗內(nèi)容   2.4.2.1 用層次化的方法設(shè)計4位加法器電路   2.4.2.2 用已驗證的4位加法器宏單元組成一個8位的加減器   2.4.2.3 實驗預習報告內(nèi)容   2.4.2.4 實驗報告要求      §2.5 迭代設(shè)計法（4位全加器與數(shù)據(jù)比較器的設(shè)計）      2.5.1 實驗原理      2.5.2 實驗內(nèi)容   2.5.2.1 設(shè)計采用超前進位技術(shù)的4位加法器   2.5.2.2 采用迭代的方法設(shè)計一個4位的數(shù)據(jù)比較器   2.5.2.3 實驗預習報告內(nèi)容   2.5.2.4 實驗報告要求      §2.6 算術(shù)邏輯單元的設(shè)計      2.6.1 實驗原理      2.6.2 實驗內(nèi)容      §2.7 觸發(fā)器及基本應用電路      2.7.1 實驗原理   2.7.1.1 觸發(fā)器的轉(zhuǎn)換   2.7.1.2 二進制異步計數(shù)器   2.7.1.3 移位寄存器      2.7.2 實驗內(nèi)容   2.7.2.1 觸發(fā)器與鎖存器的性能比較   2.7.2.2 觸發(fā)器形式的變化   2.7.2.3 異步計數(shù)器的基本性能分析   2.7.2.4 異步計數(shù)器的工作過程分析   2.7.2.5 移位寄存器分析   2.7.2.6 實驗預習報告內(nèi)容   2.7.2.7 實驗報告要求      §2.8 同步計數(shù)器與應用      2.8.1 實驗原理      2.8.2 實驗內(nèi)容   2.8.2.1 同步計數(shù)器的基本性能分析   2.8.2.2 構(gòu)成秒信號發(fā)生器   2.8.2.3 10進制計數(shù)器和6進制計數(shù)器的設(shè)計   2.8.2.4 電子秒表電路設(shè)計   2.8.2.5 帶冗余狀態(tài)的同步時序電路的設(shè)計   2.8.2.6 實驗預習報告內(nèi)容   2.8.2.7 實驗報告要求      §2.9 順序脈沖信號發(fā)生器      2.9.1 實驗原理      2.9.2 實驗內(nèi)容   2.9.2.1 計數(shù)器與譯碼器構(gòu)成的順序脈沖信號發(fā)生器   2.9.2.2 環(huán)型計數(shù)器構(gòu)成的順序脈沖信號發(fā)生器   2.9.2.3 偽隨機序列發(fā)生器   2.9.2.4 實驗預習報告內(nèi)容   2.9.2.5 實驗報告要求      §2.10 狀態(tài)機設(shè)計（自動售貨機）      2.10.1 實驗原理      2.10.2 實驗內(nèi)容   2.10.2.1 自動售貨機控制電路設(shè)計   2.10.2.2 自動售貨機控制電路的改進   2.10.2.3 實驗預習報告內(nèi)容   2.10.2.4 實驗報告要求      §2.11 交通燈控制器      2.11.1 實驗原理      2.11.2 實驗內(nèi)容      §2.12 邏輯功能驗證和時序仿真技巧      2.12.1 時鐘及二進制信號的產(chǎn)生與選擇      2.12.2 總線的設(shè)置      §2.13 邏輯單元圖形符號      第3篇 印刷電路板設(shè)計基礎(chǔ)實驗      §3.1 單面印刷電路板設(shè)計      3.1.1 印刷電路板設(shè)計原理   3.1.1.1 印刷電路板層次結(jié)構(gòu)   3.1.1.2 印刷電路板元件布局   3.1.1.3 印刷電路板布線      3.1.2 Protel的使用   3.1.2.1 Protel的操作流程   3.1.2.2 Protel的啟動   3.1.2.3 電路原理圖編輯步驟   3.1.2.4 印刷電路板設(shè)計步驟      3.1.3 實驗內(nèi)容      3.1.4 實驗步驟   3.1.4.1 啟動Protel   3.1.4.2 電路原理圖的編輯   3.1.4.3 印刷電路板的編輯      §3.2 雙面印刷電路板設(shè)計      3.2.1 實驗原理   3.2.1.1 雙面印刷電路板的手工布線方法   3.2.1.2 雙面印刷電路板的自動布線方法      3.2.2 實驗內(nèi)容   3.2.2.1 三位數(shù)字頻率計電路原理圖編輯   3.2.2.2 三位數(shù)字頻率計印刷電路板設(shè)計      §3.3 原理圖元件符號創(chuàng)建      3.3.1 實驗原理   3.3.1.1 原理圖元件符號的編輯   3.3.1.2 原理圖元件符號的創(chuàng)建      3.3.2 實驗內(nèi)容   3.3.2.1 RS485總線驅(qū)動接收器元件符號的創(chuàng)建   3.3.2.2 RS232/RS485總線轉(zhuǎn)換電路的PCB設(shè)計      §3.4 印刷板圖元件創(chuàng)建      3.4.1 實驗原理   3.4.1.1 印刷板元件封裝圖形的編輯   3.4.1.2 印刷板元件封裝圖形的創(chuàng)建      3.4.2 實驗內(nèi)容   3.4.2.1 7段數(shù)碼顯示器元件符號的創(chuàng)建   3.4.2.2 三位數(shù)字動態(tài)掃描顯示電路的PCB設(shè)計      §3.5 Protel使用指南      3.5.1 電路原理圖編輯   3.5.1.1 設(shè)置SCH的工作環(huán)境   3.5.1.2 元件原理圖符號庫   3.5.1.3 放置元件   3.5.1.4 修改元件選項屬性   3.5.1.5 元件自動編號&nb