電子元器件失效分析及應(yīng)用

定　價：￥8.00

作　者：	夏泓主編
出版社：	國防工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：	可靠性·維修性·保障性叢書第二批
標(biāo)　簽：	電子元器件

ISBN：	9787118018110	出版時間：	1998-02-01	包裝：
開本：	20cm	頁數(shù)：	155頁	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書闡述了電子元器件失效分析工作的發(fā)展、失效分析的作用；介紹了失效的概念、失效的分類、提出得到失效模式定量判斷的一些方法；在論述失效分析的思路和典型程序之后，介紹并評價了元器件失效分析的常用技術(shù)、可能的失效原因和機(jī)理的假設(shè)分析。本書可供研制電子設(shè)備的設(shè)計(jì)和管理元器件的人員、新型電子元器件的設(shè)計(jì)和管理人員學(xué)習(xí)。也可供失效分析專業(yè)人員參考。...