輻射探測(cè)與測(cè)量

     目錄
    第一篇 緒論
   第一章 輻射源
    1.1單位和定義
    1.2快電子源
    1.3重帶電粒子源
    1.4電磁輻射源
    1.5中子源
   第二章 輻射與物質(zhì)的相互作用
    2.1重帶電粒子與物質(zhì)的相互作用
    2.2快電子與物質(zhì)的相互作用
    2.3γ射線與物質(zhì)的相互作用
    2.4中子與物質(zhì)的相互作用
    2.5輻射照射量和劑量
   第三章 輻射探測(cè)器的一般特性
    3.1探測(cè)器的簡(jiǎn)化模型
    3.2電流工作方式與脈沖工作方式
    3.3脈沖幅度譜
    3.4計(jì)數(shù)曲線和坪
    3.5能量分辨率
    3.6探測(cè)效率
    3.7死時(shí)間
   第四章 計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)學(xué)和誤差預(yù)測(cè)
    4.1數(shù)據(jù)的特征
    4.2統(tǒng)計(jì)模型
    4.3統(tǒng)計(jì)模型的應(yīng)用
    4.4誤差傳遞
    4.5計(jì)數(shù)實(shí)驗(yàn)條件的優(yōu)選
    4.6時(shí)間間隔分布
    第二篇 氣體探測(cè)器
   第五章 電離室
    5.1氣體中的電離過(guò)程
    5.2電荷的遷移與收集
    5.3電流電離室的設(shè)計(jì)和運(yùn)用
    5.4用電離室測(cè)量輻射劑量
    5.5直流電離室的應(yīng)用
    5.6脈沖工作方式
   第六章 正比計(jì)數(shù)管
    6.1氣體倍增
    6.2正比計(jì)數(shù)管的設(shè)計(jì)特征
    6.3正比計(jì)數(shù)管的性能
    6.4探測(cè)效率和計(jì)數(shù)曲線
    6.5正比計(jì)數(shù)管的幾種變體設(shè)計(jì)
   第七章 蓋革－彌勒計(jì)數(shù)管
    7.1蓋革放電
    7.2填充氣體
    7.3猝滅
    7.4時(shí)間特性
    7.5蓋革計(jì)數(shù)坪
    7.6設(shè)計(jì)特征
    7.7計(jì)數(shù)效率
    7.8G－M監(jiān)測(cè)儀
    第三篇 閃爍計(jì)數(shù)器
   第八章 閃爍探測(cè)器的原理
    8.1有機(jī)閃爍體
    8.2無(wú)機(jī)閃爍體
    8.3光的收集和閃爍體的安裝
   第九章 光電倍增管
    9.1引言
    9.2光陰極
    9.3電子倍增
    9.4光電倍增管的特性
    9.5光電倍增管所要求的輔助設(shè)備
    9.6閃爍脈沖形狀分析
   第十章 用閃爍體的輻射能譜學(xué)
    10.1γ射線能譜學(xué)的一般原理
    10.2γ射線相互作用
    10.3預(yù)計(jì)的響應(yīng)函數(shù)
    10.4NaI（T1）閃爍譜儀的特性
    10.5用閃爍體的電子譜儀
    10.6以閃爍現(xiàn)象為基礎(chǔ)的特殊探測(cè)器結(jié)構(gòu)
    第四篇 半導(dǎo)體探測(cè)器
   第十一章 半導(dǎo)體二極管探測(cè)器
    11.1半導(dǎo)體的性質(zhì)
    11.2電離輻射在半導(dǎo)體中的作用
    11.3作為輻射探測(cè)器的半導(dǎo)體
    11.4半導(dǎo)體探測(cè)器的各種結(jié)構(gòu)
    11.5工作特性
    11.6面壘探測(cè)器與擴(kuò)散結(jié)探測(cè)器的應(yīng)用
   第十二章 鋰漂移鍺探測(cè)器
    12.1離子漂移探測(cè)器的制造
    12.2漂移探測(cè)器的基本性質(zhì)
    12.3Ge（Li）探測(cè)器的工作特性
    12.4用Ge（Li）探測(cè)器的γ射線譜學(xué)
   第十三章 其它固體探測(cè)器
    13.1鋰漂移硅探測(cè)器
    13.2高純鍺探測(cè)器
    13.3硅、鍺以外的其它半導(dǎo)體材料
    13.4雪崩探測(cè)器
    13.5位置靈敏半導(dǎo)體探測(cè)器
    第五篇 中子探測(cè)器和能譜學(xué)
   第十四章 慢中子探測(cè)方法
    14.1與中子探測(cè)有關(guān)的核反應(yīng)
    14.2以硼反應(yīng)為基礎(chǔ)的探測(cè)器
    14.3根據(jù)其它轉(zhuǎn)換反應(yīng)制成的探測(cè)器
    14.4反應(yīng)堆儀表
   第十五章 快中子探測(cè)和快中子譜學(xué)
    15.1以中子慢化為基礎(chǔ)的計(jì)數(shù)器
    15.2以快中子誘發(fā)反應(yīng)為基礎(chǔ)的探測(cè)器
    15.3利用快中子散射的探測(cè)器
    第六篇 探測(cè)器電子學(xué)和脈沖處理
   第十六章 脈沖的處理與成形
    16.1器件阻抗
    16.2同軸電纜
    16.3脈沖成形
   第十七章 線性脈沖和邏輯脈沖功能
    17.1線性脈沖和邏輯脈沖
    17.2儀器標(biāo)準(zhǔn)
    17.3脈沖處理單元一覽
    17.4通用部件
    17.5脈沖計(jì)數(shù)系統(tǒng)
    17.6脈沖幅度分析系統(tǒng)
    17.7脈沖定時(shí)系統(tǒng)
    17.8脈沖波形甄別
   第十八章 多道脈沖分析器
    18.1單道測(cè)量法
    18.2多道分析器的一般特性
    18.3多道分析器
    18.4能譜的穩(wěn)定
    18.5用計(jì)算機(jī)作能譜分析
    第七篇 其它輻射探測(cè)器及應(yīng)用
   第十九章 其它類(lèi)型的探測(cè)器
    19.1切倫科夫探測(cè)器
    19.2液體電離室和正比數(shù)管
    19.3照相乳膠
    19.4熱釋光劑量計(jì)
    19.5徑跡蝕刻探測(cè)器
    19.6活化箔探測(cè)中子
   第二十章 本底和探測(cè)器屏蔽
    20.1本底來(lái)源
    20.2γ射線譜中的本底
    20.3其它探測(cè)器的本底
    20.4屏蔽材料
    20.5降低本底的現(xiàn)行方法
   附錄 輻射效應(yīng)和照射極限
    1.輻射效應(yīng)
    2。劑量的定量化
    3。照射類(lèi)型