射線檢驗(yàn)

定　價(jià)：￥6.56

作　者：	孫萬鈴等編著
出版社：	國(guó)防工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：	無損檢測(cè)技術(shù)叢書
標(biāo)　簽：	射線檢驗(yàn)

ISBN：	9787118004250	出版時(shí)間：	1989-06-01	包裝：
開本：	19cm	頁數(shù)：	402頁	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書詳盡地介紹了射線檢驗(yàn)原理、檢驗(yàn)設(shè)備、透照工藝、暗房處理、底片的觀察評(píng)定和保護(hù)等內(nèi)容。本書適合II級(jí) 射線檢驗(yàn)人員的自學(xué)，對(duì)III級(jí)（高級(jí)）射線檢驗(yàn)人員也有一定的參考價(jià)值。

作者簡(jiǎn)介

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